SN74ABTH182646APM
托盤(pán)
74ABTH
掃描測(cè)試設(shè)備,帶收發(fā)器和寄存器
4.5 V ~ 5.5 V
18
-40°C ~ 85°C
表面貼裝
64-LQFP
IC SCAN-TEST-DEV/TXRX 64-LQFP